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BG9621型硅半导体辐射表面污染检测仪

更新时间:2023-11-11

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简要描述:
BG9621型硅半导体辐射表面污染检仪测是探测α和β射线及γ射线的辐射监测仪表,采用硅半导体探测器。该仪表小巧轻便且探测效率高,且具有自我诊]断功能、通信功能、存储等丰富的功能
品牌何亦

BG9621型硅半导体辐射表面污染检测仪

BG9621型硅半导体辐射表面污染检测仪功能描述

             BG9621型是探测α和β射线及γ射线的辐射监测仪表,采用硅半导体探测器。该仪表小巧轻便且探测效率高,且具有自我诊]断功能、通信功能、存储等丰富的功能。

BG9621型硅半导体辐射表面污染检测仪仪器特点

采用半导体探测器,不需定期交换探测器,经济实用

可进行量程广且精度高的测量,测量范围为099990 min

采用彩色有机EL显示屏,其画面明亮且宽视角,易于目视

测量值和时间可保存1200

具有自我诊断功能

测量值可通过USB接口存储到计算机

 

  BG9621型硅半导体辐射表面污染检测仪 
   

技术规范

 

测定射线

α射线,β射线,

探测器

硅半导体

有效探测面积

100cm2

显示范围

099990 min-109999000 counts,γ射线:BG99.9mSv/h

探测效率

α射线241Am 20%,β射线90Sr-90Y 30%

时间常数

1310 sec,自动

趋式数据存储

1200

数据输出

USB 接口

电池寿命

7 小时以上 ( 无显示)6 小时以上 ( 连续显示)

电源

碱性电池5 6 节,镍氢充电电池(另选)

AC100240 VAC 适配器(另选)

工作温度

-5 +45 / 23 113?F

工作湿度

90 %RH ( 无结露)

尺寸

120(W)×56(H)×293(D) mm4.7(W)×2.2(H)×11.5(D) in

重量

0.75 kg / 1.65 lb. ( 不含电池)

依据标准

IEC60325 (2002)

 

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