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CLJ-BII(J)全半导体激光尘埃粒子计数器

简要描述:

CLJ-BII(J)全半导体激光尘埃粒子计数器

更新时间:2017-03-21

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CLJ-BII(J)全半导体激光尘埃粒子计数器

CLJ-BII(J)全半导体激光尘埃粒子计数器

仪器简介: 

   该仪器的技术指标满足国家计量总局颁布的JJG547-88检定规程的要求,整机功能采用微电脑控制处理,可直接打印检测结果。具有功能多、测量精度高、速度快、便于携带和操作简单等特点。仪器一次采样可同时测得多种粒径的尘埃粒子数,并能选择观察其中某一粒径粒子的数目及其变化情况,对于研究、检测和评价各种洁净环境都十分方便。

  该系列产品已被广泛应用于微电子、医院、制药、医疗器械、生化制品、食品卫生、精细化工、精密机械和航天等生产和科研部门,是制药企业及其监督管理部门贯彻GMP规范的*仪器。该系列仪器性能设计先进、质量稳定可靠,深受用户欢迎。经国内贸易部有关部门的市场调查和推荐,先后获《质量信得过产品》、《消费者信得过产品》、《质量监督合格产品》等荣誉证书。

 

技术参数:

型号CLJ-BⅡ(J)

采样流量2.83L/min

检测范围100级~30万级

自净时间≤10min

连续工作时间8h

打印功能内置打印机

工作环境温度10~35℃,相对湿度≤75%

电源220V±10%,50Hz±2Hz

粒径通道0.3,0.5,1,3,5,10(um)六通道

采样周期1min~10min

电源及寿命激光光源>30000h

功耗35W

外形尺寸28X11.5X33(cm)

重量7Kg

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